1.熱電極的氧化和揮發(fā)

　　高溫條件下，電極表面被氧化，產生鉑和銠的氧化物，這樣的氧化物容易揮發(fā)，從而使電極成分發(fā)生改變，引起熱電勢漂移。

　　2.雜質含量和分布的影響

　　由于受化學提純和冶金技術的限制，熱電極中存在微量雜質且雜質分布不均勻，通過退火手段，可消除一定雜質，改善雜質分布和熱電性能。

　　3.高溫下的電極晶粒長大

　　標準熱電偶若在超過極限溫度環(huán)境下長時間使用，會使晶粒長大，導致抗拉強度下降，同時也會增加晶粒邊界污染，使電極發(fā)生脆化而損壞。

　　4.使用環(huán)境對熱電極的沾污腐蝕

　　標準熱電偶與廉金屬、碳、硅等直接接觸，可造成污染。由于原子間的相互擴散作用，廉金屬原子易擴散到電極中去，形成低熔點的氧化物，造成熱電性能不穩(wěn)定。若在還原性氣體中使用，這樣的氣體中含有極少量的二氧化硅，硫和碳易轉化為硅。當遇到一氧化碳時，硫和碳便形成SiC2蒸氣腐蝕金屬鉑，并形成鉑的硅化物，從而發(fā)生漂移。

　　5.熱應力和形變應力影響

　　由于在空氣退火中，加熱時熱電極徑向溫度受周圍空氣的影響不一致，容易產生熱內應力，加之在穿絕緣管時熱電極有一定彎曲，均易產生內應力。因此，要提高熱電性能以延長其使用壽命。除了提高冶煉技術，減少雜質影響和不均勻分布，抑制電極的氧化和揮發(fā)外，更要注重環(huán)境因素和內應力的影響。